Ο σωλήνας ακτίνων Χ τοποθετείται πάνω από το δείγμα ανάλυσης, ελαχιστοποιώντας τον κίνδυνο βλάβης του σωλήνα από την κυκλοφορία σκόνης σε κενό δωμάτιο και χωρίς την ανάγκη χρήσης κολλήσεων κατά την ανάλυση του δείγματος σκόνης, καθιστώντας την προετοιμασία του δείγματος πιο γρήγορη και εύκολη.
Οι ταχύτητες αντλίας κενού και αφαίρεσης κενού μπορούν να εναλλάξουν άμεσα σε αργή και γρήγορη ταχύτητα, έτσι ώστε να επιτευχθεί η βέλτιστη μεταχείριση δειγμάτων σκόνης και μεταλλικών δειγμάτων.

Χαρακτηριστικά

• Ανάλυση υψηλής ακρίβειας διαφορετικών περιεκτικότητας σε διάφορα στοιχεία σε σκόνες και στερεά δείγματα

• Ο πίνακας δειγματοληψίας υψηλής ακρίβειας πληροί τις απαιτήσεις υψηλής ακρίβειας ανάλυσης κραμάτων

• Ειδικά οπτικά συστήματα μειώνουν τα σφάλματα που προκαλούνται από την ανισότητα της επιφάνειας του δείγματος

• Το δωμάτιο δείγματος μπορεί να αφαιρεθεί εύκολα για καθαρισμό

• Απόλυτη διεπαφή λειτουργίας και υψηλό επίπεδο αυτοματοποίησης

ZSX Primus III +

Το Rigaku ZSX Primus III + μετρά γρήγορα ποσοτικά τα κύρια και δευτερεύοντα ατομικά στοιχεία από το οξυγόνο (O) έως το ουράνιο (U) σε διάφορους τύπους δειγμάτων με ελάχιστα κριτήρια.

Υψηλότερη αξιοπιστία από τους σωλήνες των οπτικών στοιχείων

ZSX Primus III + διαθέτει καινοτόμα οπτικά παραπάνω διαμόρφωση. Λόγω της συντήρησης του δωματίου δείγματος, δεν χρειάζεται πλέον να ανησυχείτε για τη μολυσμένη διαδρομή ακτίνας ή τον χρόνο διακοπής. Η γεωμετρία πάνω από τα οπτικά στοιχεία εξαλείφει τα προβλήματα καθαρισμού και παρατείνει τον χρόνο χρήσης.

Τοποθεσία δείγματος υψηλής ακρίβειας

Η υψηλή ακρίβεια της τοποθέτησης του δείγματος εξασφαλίζει ότι η απόσταση μεταξύ της επιφάνειας του δείγματος και του σωλήνα ακτίνων Χ παραμένει σταθερή. Αυτό είναι σημαντικό για εφαρμογές που απαιτούν υψηλή ακρίβεια, όπως η ανάλυση κραμάτων. Το ZSX Primus III+ διαθέτει μοναδική οπτική διαμόρφωση για ανάλυση υψηλής ακρίβειας που έχει σχεδιαστεί για να ελαχιστοποιήσει τα σφάλματα που προκαλούνται από μη επίπεδες επιφάνειες στο δείγμα, όπως λιωμένες σφαίρες και συμπιεσμένα σωματίδια

Βασικές παραμέτρους SQX με το λογισμικό EZ-scan

Η σάρωση EZ επιτρέπει στους χρήστες να αναλύσουν άγνωστα δείγματα χωρίς προηγούμενη ρύθμιση. Η λειτουργία εξοικονόμησης χρόνου είναι απλά μερικά κλικ του ποντικιού και πληκτρολογήστε το όνομα του δείγματος. Σε συνδυασμό με το λογισμικό βασικών παραμέτρων SQX, παρέχει τα πιο ακριβή και γρήγορα αποτελέσματα XRF. Το SQX μπορεί να διορθώσει αυτόματα όλα τα εφέ πίνακα, συμπεριλαμβανομένων των επικάλυψεων γραμμών. Το SQX μπορεί επίσης να διορθώσει τις επιδράσεις δευτερογενής διέγερσης των φωτοηλεκτρονικών (φωτεινών και υπερελαφρών στοιχείων), διαφορετικών ατμόσφαιρων, ακαθαρσίων και διαφορετικών μεγεθών δειγμάτων. Η χρήση βιβλιοθήκης ταιριάσματος και της τέλειας ανάλυσης σάρωσης μπορεί να αυξήσει την ακρίβεια.

Χαρακτηριστικά

• Ανάλυση στοιχείων από το Ο στο U

• Οι οπτικές συσκευές πάνω από τους σωλήνες ελαχιστοποιούν τα προβλήματα ρύπανσης

• Μικρή έκταση και περιορισμένος εργαστηριακός χώρος

• Τοποθεσία δείγματος υψηλής ακρίβειας

• Ειδικά οπτικά στοιχεία μειώνουν τα σφάλματα που προκαλούνται από την επιφάνεια του καμπύλου δείγματος

• Στατιστικά εργαλεία λογισμικού ελέγχου διαδικασιών (SPC)

• Η παραγωγή βελτιστοποιεί την εκκένωση και τις διαρροές κενού