Μετρητής πάχους Oxford

Εισαγωγή εργαλείων:

CMI900 φθορομετρητής επίστρωσης ακτίνων Χ, με τα πλεονεκτήματα της μη καταστροφής, της μη επαφής, της γρήγορης μέτρησης χωρίς ζημιές, της μέτρησης πολλαπλών στρωμάτων κραμάτων, της υψηλής παραγωγικότητας, της υψηλής αναπαραγωγιμότητας και άλλα πλεονεκτήματα για τη μέτρηση του πάχους της επίστρωσης της επιφάνειας, από τη διαχείριση της ποιότητας στην εξοικονόμηση κόστους.

Πεδίο εφαρμογής:

Χρησιμοποιείται για τη μέτρηση του πάχους των ηλεκτρονικών εξαρτημάτων, ημιαγωγών, PCB, FPC, στελέχη LED, εξαρτήματα αυτοκινήτων, λειτουργική επικάλυψη, διακοσμητικά κομμάτια, συνδετήρες, τερματικά, υλικά μπάνιου, κοσμήματα ... πολλές βιομηχανίες επιφάνειας επικάλυψης

Μέτρηση της επίστρωσης, της μεταλλικής επίστρωσης, του πάχους της ταινίας ή της σύνθεσης του υγρού (ανάλυση των συστατικών της επίστρωσης του υγρού).

Κύρια χαρακτηριστικά:

Ευρύ εύρος μέτρησης, εύρος ανιχνεύσιμων στοιχείων: Ti22-U92.

Μπορεί να προσδιοριστεί ταυτόχρονα 5 στρώματα / 15 στοιχεία / συνυπάρχοντα στοιχεία πιο θετικά.

Υψηλή ακρίβεια και καλή σταθερότητα.

Ισχυρές δυνατότητες στατιστικής και επεξεργασίας δεδομένων.

Πιστοποιημένες από το NIST τυποποιημένες ταμπλέτες.

Παγκόσμια Υπηρεσία και Υποστήριξη.

Παράμετροι:

1.Σύστημα διεγείρωσης ακτίνων Χ

Κάθετο οπτικό σύστημα ακτίνων Χ

Αεροψυκτικός σωλήνας ακτίνων Χ μικροεστίασης, παράθυρο Be

Στόχος: Rh στόχος Προαιρετικοί στόχοι: W, Mo, Ag κλπ.

Δύναμη: 50W (4-50kV, 0-1.0mA)

Εξοπλισμένος με ασφαλείς πύλες

Δεύτερο φίλτρο ακτίνων Χ: 3 εναλλαγή ελέγχου θέσης, διάφορα υλικά, διάφορα πάχος δευτερεύοντα φίλτρα για επιλογή

2. Σύστημα ευθυγράμμισης

Μόνο εξαρτήματα ευθυγράμμισης, αυτόματος έλεγχος πολλών ευθυγράμμισης

Συσκευαστικά στοιχεία: Μπορεί να συναρμολογηθεί ταυτόχρονα έως και 6 προδιαγραφές ευθυγράμμισης

Διάφορες προδιαγραφές μεγέθους ευθυγράμμισης:

Στογγυλές, όπως 4, 6, 8, 12, 13, 20 mil κλπ.

Δηλαδή 0,102, 0,152, 0,203, 0,305, 0,330, 0,508mm

Ορτογόνιο, όπως 1x2, 2x2, 0.5x10, 1x10, 2x10, 4x16mil κλπ.

Δηλαδή 0,025*0,05, 0,05*0,05, 0,013*0,254, 0,025*0,254, 0,051*0,254, 0,102*0,406mm

Μετρήστε το μέγεθος της κηλίδας σε απόσταση εστίασης 12,7 mm, το ελάχιστο μέγεθος της κηλίδας μετρήσεων είναι: 0,078 x 0,055 mm (χρησιμοποιώντας τον ευθοποιητή 0,025 x 0,05 mm < 1x2mil>) Μεγαλύτερο μέγεθος της κηλίδας μετρήσεων σε απόσταση εστίασης 12,7 mm: 0,38 x 0,42 mm (χρησιμοποιώντας τον ευθοποιητή 0,3 mm < 1x2mil>)

3. Δωμάτιο Δείγματος

Το μέγεθος του δείγματος του δωματίου δείγματος είναι μεγαλύτερο 610mm x 610mmXY άξονας κινητής εμβέλειας πρότυπο: 152,4 x 177,8mm <πρόγραμμα ελέγχου> Z άξονας ελέγχου κινητής ύψους 43,18mmXYZ άξονας ελέγχου διάφορες μέθοδοι ελέγχου επιλογή: XYZ τρία άξονα πρόγραμμα ελέγχου. Χειροκίνητος έλεγχος του άξονα XY και έλεγχος προγράμματος του άξονα Z. Χειροκίνητος έλεγχος τριών άξονων XYZ

Σύστημα παρατήρησης δείγματος

Υψηλής ανάλυσης έγχρωμο σύστημα παρατήρησης CCD, ο τυποποιημένος πολλαπλασιασμός μεγέθυνσης είναι 30 φορές. 50 και 100 φορές το σύστημα παρατήρησης είναι επιλέξιμο. Λέιζερ αυτόματης εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτουργία ελέγχου εστίασηΛειτου

Εφαρμογή HP ή Epson για την ανάλυση χρωματικών εκτυπωτών inkjet Λειτουργικό σύστημα: Windows XP πακέτο λογισμικού ανάλυσης πλατφόρμας: πακέτο λογισμικού SmartLink FP

5. Σειρά μέτρησης πάχους

Μετρήσιμο εύρος πάχους: εξαρτάται από την συγκεκριμένη εφαρμογή σας.

Η βασική ανάλυση λειτουργεί με τη διόρθωση βασικών παραμέτρων. Oxford Instruments θα παρέχει τυποποιημένα δείγματα με την απαραίτητη διόρθωση ανάλογα με την εφαρμογή σας.

Τύπος δείγματος: επίστρωση· Μέρος ανιχνεύσιμων στοιχείων: Ti22 – U92 Μπορεί να προσδιοριστεί ταυτόχρονα η διόρθωση 5 στρωμάτων / 15 στοιχείων / συνυπάρχουσα στοιχεία. Ανίχνευση πολύτιμων μετάλλων, όπως η αξιολόγηση Au karat Ανάλυση στοιχείων υλικών και κραμάτων· Αναγνώριση και ταξινόμηση υλικών·

Φάσμα έως και 4 δείγματα ταυτόχρονα εμφανίζονται και συγκρίνονται. Ποιοτική ανάλυση φάσματος στοιχείων. Λειτουργίες προσαρμογής και διόρθωσης

Λειτουργία αυτόματης ρύθμισης και διόρθωσης συστήματος, αυτόματη εξάλειψη αυτοματοποίησης μετρήσεων απόσυρσης συστήματος Λειτουργία μετρήσεων ενεργοποίησης ποντικιού: Λειτουργία αυτόματης μετρήσεων πολλών σημείων "Point and Shoot": τυχαία λειτουργία, γραμμική λειτουργία, λειτουργία κλίσης, λειτουργία σάρωσης, λειτουργία επαναλήψης μετρήσεων

Λειτουργία προεπισκόπησης θέσης μετρήσεων Λειτουργία εστίασης με λέιζερ και αυτόματης εστίασηΛειτουργία ελέγχου δείγματος επιτραπέζιαΡυθμίσεις σημείων μετρήσεων Συνεχής μετρήση πολλών σημείων

Προεπισκόπηση της θέσης μέτρησης (γραφήματα) Στατιστικός υπολογισμός μέσης λειτουργίας, τυποποιημένης απόκλισης, σχετικής τυποποιημένης απόκλισης, μεγαλύτερης τιμής, ελάχιστης τιμής, εύρους μεταβολής δεδομένων, αριθμού δεδομένων, CP、CPK、 Προαιρετικό λογισμικό ελέγχου του ανώτατου ορίου και του κάτω ορίου: Ο επεξεργαστής στατιστικών εκθέσεων επιτρέπει στους χρήστες να προσαρμόσουν εκθέσεις πολυμέσων, ομάδες δεδομένων, διαγράμματα X-bar / R, λειτουργίες αποθήκευσης βάσεων δεδομένων ιστογραμμάτων,

Λειτουργία παρακολούθησης ασφαλείας του συστήματος, αισθητήρας προστασίας του άξονα Z, αισθητήρας ανοιχτού και κλειστού δείγματος πόρτας δωματίου