Μέλος VIP
Μηχαν? αλυσ?δα? ι?ντων ArBlade 5000
Το ArBlade 5000 ε?ναι ?να μοντ?λο υψηλ?? απ?δοση? για την αλυσ?δα ι?ντων Hitachi. Επιτεκν?ει υπερ-υψηλ? ταχ?τητα λε?ανση? τομ??. Η λειτουργ?α επεξεργα
Λεπτομέρειες προϊόντος
Μηχανή αλυσίδας ιόντων ArBlade 5000
Το ArBlade 5000 είναι ένα μοντέλο υψηλής απόδοσης για την αλυσίδα ιόντων Hitachi.
Επιτεκνύει υπερ-υψηλή ταχύτητα λείανσης τομής.
Η λειτουργία επεξεργασίας τομέων υψηλής απόδοσης καθιστά την επεξεργασία δείγματος πιο εύκολη κατά την παρατήρηση τομέων ηλεκτροσκόπιου.
-
Χαρακτηριστικά
-
Προδιαγραφές
Χαρακτηριστικά
Ταχύτητα λείανσης έως 1 mm/h*1！
Το νέο πιστόλι ιόντων PLUSII εκτοξεύει ακτίνες ιόντων υψηλής πυκνότητας ρεύματος, βελτιώνοντας σημαντικά*2Ταχύτητα μύλησης.
- *1
- Si επιδεικνύει την άκρη του φραγμού 100 µm, μέγιστο βάθος επεξεργασίας 1 ώρα
- *2
- Ταχύτητα λείανσης διπλάσια από τα προϊόντα της εταιρείας (IM4000PLUS: παραγωγή 2014)
Σύγκριση αποτελεσμάτων κομμάτων
(Δείγμα: αυτόματος πυρήνας μολύβι, χρόνος άλεσης: 1,5 ώρες)
Προϊόντα IM4000PLUS
ArBlade 5000
Μέγιστο πλάτος λείανσης μέχρι 8 mm!
Χρησιμοποιώντας το κάθισμα δείγματος λείανσης ευρείας έκτασης, το πλάτος επεξεργασίας μπορεί να φτάσει τα 8 mm και είναι κατάλληλο για λείανση ηλεκτρονικών εξαρτημάτων.
Συνθετική αλυστήρα
Η σειρά IM4000 σύνθετου τύπου (λείανση σε τομή, λείανση σε επίπεδο) λείανση ιόντων είναι ευρέως αποδεκτή.
Το δείγμα μπορεί να προεπεξεργαστεί ανάλογα με τις ανάγκες.
Έλευση τομής
Παραγωγή τομών μαλακών υλικών ή σύνθετων υλικών που είναι δύσκολο να χειριστούν με την κοπή ή τη μηχανική λείανση
Επίπεδο λείανση
Καθαρισμός ή καθαρισμός επιφάνειας των δειγμάτων μετά τη μηχανική αλύση
Σχέδιο επεξεργασίας λείανσης
Σχέδιο επεξεργασίας λείανσης επιφάνειας
Προδιαγραφές
| Γενικό | |
|---|---|
| Χρήση αερίων | Ar(αργόνιο) αέριο |
| Τάση επιτάχυνσης | 0～8 kV |
| Έλευση τομής | |
| Ταχύτερη ταχύτητα λείανσης (υλικό Si) | 1 mm/hr*1Περιέχει 1 mm/hr*1 |
| Μέγιστο πλάτος λείανσης | 8 mm*2 |
| Μέγιστο μέγεθος δείγματος | 20(W) × 12(D) × 7(H) mm |
| Σειρά κίνησης δείγματος | Χ ±7 χιλ., Υ 0~+3 χιλ. |
| Λειτουργία ενδιάμεσης επεξεργασίας ακτίνων ιόντων | Τυποποιημένη διαμόρφωση |
| Γωνία κυνήματος | ±15°, ±30°, ±40° |
| Επίπεδο λείανση | |
| Μέγιστο εύρος επεξεργασίας | φ32 mm |
| Μέγιστο μέγεθος δείγματος | φ50 × 25(H) mm |
| Σειρά κίνησης δείγματος | X 0～+5 mm |
| Λειτουργία ενδιάμεσης επεξεργασίας ακτίνων ιόντων | Τυποποιημένη διαμόρφωση |
| Ταχύτητα περιστροφής | 1 r/m、25 r/m |
| Γωνία κλίσης | 0～90° |
- *1
- Si επιδεικνύει την άκρη του φραγμού 100 µm, μέγιστο βάθος επεξεργασίας 1 ώρα
- *2
- Όταν χρησιμοποιείται η αλυσίδα δείγματος σε ευρεία τομή
Επιλογή
| έργο | Περιεχόμενο |
|---|---|
| Υψηλή αντοχή στη φθορά | Η ανθεκτική στη φθορά πλάκα είναι περίπου δύο φορές μεγαλύτερη από την τυποποιημένη πλάκα (εκτός κοβαλτίου) |
| Μικροσκόπιο παρακολούθησης επεξεργασίας | Μεγέθυνση 15 × έως 100 × διπλό και τριπλό (μπορεί να προστεθεί CCD) |
Σχετικές κατηγορίες προϊόντων
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης εκτόξευσης πεδίου (FE-SEM)
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης (SEM)
- Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο μετάδοσης (TEM/STEM)
Ηλεκτρονική έρευνα
-
Επαφές
-
Εταιρεία
-
Τηλέφωνο
-
Ηλεκτρονικό ταχυδρομείο
-
WeChat
-
Κωδικός επαλήθευσης
-
Περιεχόμενο μηνύματος
-